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2011
11-24

氣相色譜程序升溫時基流增加原因分析
氣相色譜程序升溫時基流增加（漂移大），噪聲增加原因分析如下：1、色譜柱需重新老化或失效；2、新?lián)Q載氣純度欠佳；3、過濾器失效；4、樣品前處理不當，如：雜質(zhì)干擾物太多；5、靈敏度太高。6、數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設(shè)置不合理。相關(guān)產(chǎn)品信息：氣相色譜分析儀,變壓器油色譜分析儀,天然氣分析儀,氣相色譜儀價格
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2011
11-22

氣相色譜分析之出峰后基線下移
出峰后基線下移的主要原因分析如下：1、樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態(tài)；2、FID被污染狀況發(fā)生改變，或氣流比發(fā)生變化；3、系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣，或出現(xiàn)堵塞；4、色譜柱被污染；5、樣品處理不當，如：樣品中有些物質(zhì)和固定相發(fā)生作用。
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2011
11-21

氣相色譜出現(xiàn)拖尾峰的原因分析
1、氣相色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；2、樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；3、汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進入色譜柱；4、化室的溫度低或偏高；5、載氣流量偏低；6、進樣量大；7、載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣；8、進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質(zhì)或注射墊殘渣污染；9、色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點污染物作用；10、補充氣未開或偏低；11、色譜柱溫度偏低或失效；12、甲烷化Ni催化劑失效；13、進樣技術(shù)差(如速...
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2011
11-18

氣相色譜出現(xiàn)“N“ 或 “W”峰及舌頭峰的原因
一、"N"或“W”峰出現(xiàn)的原因1、TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導(dǎo)率非線性引起；2、FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如CS2)，或氣流比欠佳時；3、ECD操作時，由于檢測器被污染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈沖電源有毛病。二、舌頭峰(前延峰)出現(xiàn)的原因1、汽化溫度偏低；2、載氣流量小：3、進樣量大，汽化時間長；4、汽化室被污染，樣品有吸附效應(yīng)；5、樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；6、進樣技術(shù)差(揮發(fā)性組分的進樣速度太慢)；7、峰前出現(xiàn)了“鬼”峰。
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2011
11-16

氣相色譜出現(xiàn)臺階峰和負峰的原因
一、臺階峰1、TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；2、氣體流量突變?nèi)纾鹤⑸鋲|突然漏氣，氣路受阻等；3、記錄色譜峰裝置故障如：拉線松。二、負峰1、TCD用氮做載氣，由于待測組分在N2中濃度不同，熱傳導(dǎo)值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負峰,有時可以通過改變載氣流量或進樣量克服；2、操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉(zhuǎn)變?yōu)殡婋x檢測，此時靈敏度還會大大降低；3、操作FID，低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質(zhì)出現(xiàn)，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰；4、操作...
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